檢測限四種常用的表示方式

1.儀器檢測下限

可檢測儀器的最小訊號，通常用信噪比來表示，當信號與噪聲之比大于等于3時，相當于信號強度的試樣濃度，定義為儀器檢測下限。

2.方法檢測下限

某方法可檢測的最低濃度。通常用低濃度曲線外推法可求的方法檢測下限。

美國EPASW-846中規(guī)定方法檢出限：MDL=3.143δ(δ重復測定7次)

3.樣品檢測下限

相對于空白可檢測的樣品最小含量。樣品檢測下限定義為：其信號等于測量空白溶液的信號的標準偏差的3倍時的濃度。檢測下限是選擇分析方法的重要因素。樣品檢測下限不僅與方法檢測下限有關，而且與空白樣品中空白含量以及空白波動情況有關。只有當空白含量為零時，樣品檢測下限等于方法檢測下限。然而，空白含量往往不等于零，空白大小受環(huán)境對樣品的污染，試劑純度、水質純度、容器的質地及操作等因素的影響。因此，由外推法可求得方法檢測下限可能很低，但由于空白含量的存在，以及空白含量的波動，樣品檢測下限可能要比方法檢測下限大得多。從實用中考慮，樣品檢測下限較為有用和切合實際。

4.定量下限

美國EPASW-846中規(guī)定4MDL為定量下限RQL，即4倍檢出限濃度作為測定下限，其測定值的相對標準偏差約為10%。日本JIS規(guī)定定量下限為10倍的MDL。